Kính hiển vi lực nguyên tử Park NX10 – Park Systems
Mô tả ngắn
Hãng sản xuất: Park Systems
Park NX10 không chỉ là một chiếc AFM mạnh mẽ – mà còn là công cụ tiên phong cho các nghiên cứu nano, hỗ trợ từ người mới bắt đầu đến chuyên gia, phù hợp với ứng dụng đa ngành và môi trường khoa học hiện đại.
HỖ TRỢ NHANH
THÔNG TIN SẢN PHẨM
- Mô tả
Mô tả
Park NX10 – Chuẩn mực mới về độ ổn định và độ chính xác trong nghiên cứu nano
Đối với cả nhà nghiên cứu độc lập và các trung tâm thí nghiệm dùng chung, Park NX10 AFM là một nền tảng đa năng với chi phí hợp lý, vừa dễ sử dụng vừa mang lại khả năng phân giải cao. Thiết bị được thiết kế để tạo ra hình ảnh không biến dạng và có thể tái lập một cách chính xác.
Việc thay thế đầu dò dễ dàng của Park NX10, kết hợp cùng phần mềm SmartScan với tính năng chụp ảnh chỉ bằng một cú nhấp chuột và các chế độ nâng cao được lập trình sẵn, giúp hệ AFM của Park trở nên khác biệt.
Thiết kế thông minh – Trải nghiệm người dùng tối ưu
-
Thao tác đầu dò & mẫu dễ dàng: thiết kế mở hai bên cho phép bạn lắp đặt đầu dò và mẫu bằng tay một cách nhanh chóng, tiện lợi. Đi kèm là bộ giữ đầu dò đã hiệu chỉnh sẵn (pre-aligned), giúp loại bỏ bước căn laser rắc rối.
- Tự động tiếp cận đầu dò vào mẫu chỉ trong 10 giây: nhờ hệ thống Z cấp tốc và xử lý tín hiệu thấp nhiễu từ bộ điều khiển NX, quá trình tiếp cận mẫu diễn ra nhanh chóng và ổn định, giảm tối đa sự can thiệp từ người dùng.
Độ chính xác đẳng cấp – Dữ liệu tin cậy tuyệt đối
-
Cảm biến độ cao (Z) siêu nhiễu thấp: chỉ ~0,02 nm trong dải rộng – giúp hình ảnh bề mặt cực kỳ trung thực, không phóng đại hoặc biến dạng.
- Công nghệ True Non-Contact™ độc quyền: giữ đầu dò luôn ở mức siêu gần bề mặt mà không chạm, kéo dài tuổi thọ đầu dò và bảo vệ mẫu tốt hơn.
- Thiết kế hộp ly tâm (flexure) riêng biệt cho XY và Z: loại bỏ sai lệch “bow” và đảm bảo quét phẳng, không cong nền – cho phép đo chiều cao chính xác ở bất cứ vị trí nào trên mẫu.
Chế độ vận hành phong phú – Phù hợp với mọi nhu cầu nghiên cứu
Park NX10 hỗ trợ đa dạng các phương thức quét và phân tích:
-
Từ cơ bản: Contact, Tapping, Non-Contact (True Non-Contact™)
-
Đến nâng cao: Lateral Force Microscopy (LFM), Phase Imaging, Conductive AFM (PinPoint), KPFM, EFM, PFM, SICM (Scanning Ion Conductance Microscopy)… và nhiều hơn nữa.
- Tùy chọn môi trường linh hoạt: từ imaging trong chất lỏng, đến mẫu nhiệt độ cao, cell điện hóa hoặc làm việc trong glovebox.
Thông minh hỗ trợ – Phần mềm SmartScan™ tiên tiến
-
Chế độ tự động SmartScan Auto: từ cài đặt đến hình ảnh chỉ với vài cú nhấp chuột, tự động tối ưu hóa độ phân giải và tốc độ quét.
- SmartAnalysis™: công cụ xử lý và phân tích hình ảnh, hỗ trợ thống kê, độ nhám, histogram… giúp chuẩn bị báo cáo, công bố dễ dàng, trực quan.
Để tìm hiểu thêm về ưu điểm và tính năng của thiết bị, vui lòng liên hệ chúng tôi để được hỗ trợ tư vấn trực tiếp.

























