Dịch vụ kiểm tra mẫu trên máy SEM

Mô tả ngắn

Dịch vụ kiểm tra/phân tích mẫu trên máy SEM (SEM/EDX)

Chúng tôi cung cấp tới Khách hàng dịch vụ kiểm tra, phân tích mẫu & sản phẩm trên máy SEM/EDX.

Thiết bị kiểm tra/phân tích mẫu: Phenom XL G2 Desktop SEM – Thermo Fisher Scientific

Dịch vụ kiểm tra/phân tích mẫu trên máy SEM

Chụp ảnh SEM với độ phân giải cao, rõ nét cấu trúc bề mặt và vi mô
Kiểm tra/phân tích EDS: Phân tích thành phần nguyên tố trong mẫu vật & sản phẩm với dải phân tích rộng từ B tới Am và độ phân giải năng lượng cao.
Phân tích độ nhám: Đánh giá và phân tích độ nhám bề mặt mẫu
Đo độ dày lớp phủ/ lớp mạ kim loại
Hỗ trợ kiểm tra mẫu sản phẩm trong nhiều lĩnh vực và ứng dụng như điện tử, công nghệ nano, khoa học vật liệu, và nhiều lĩnh vực khác.
Thời gian kiểm tra/phân tích mẫu nhanh chóng, đáp ứng kịp thời nhu cầu của khách hàng
Cam kết bảo mật thông tin, dữ liệu của mẫu thử/sản phẩm.

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn!

Quang điện tử	Nguồn nhiệt tuổi thọ cao (CeB₆ ) Nhiều dòng chùm tia
Phạm vi phóng đại quang điện tử	160 – 200.000 lần
Độ phóng đại quang học ánh sáng	3–16 lần
Độ phân giải	<10 nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh	960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 và 7680 x 4800 pixel
Điện áp gia tốc	Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV Chế độ nâng cao: phạm vi có thể điều chỉnh giữa chế độ phân tích và hình ảnh 4,8 kV đến 20,5 kV
Mức chân không	Thấp – trung bình – cao
Detector	Máy dò điện tử tán xạ ngược (tiêu chuẩn) Máy dò điện tử thứ cấp (tùy chọn) Máy dò quang phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) (tùy chọn)
Kích thước mẫu	Tối đa 100 mm x 100 mm (cuống pin tối đa 36 x 12 mm) Tối đa 40 mm (h)
Thời gian tải mẫu	Ánh sáng quang học <5 giây Quang điện tử <60 giây