Thiết bị đo biên dạng bề mặt 3D ContourX-200

Mô tả

ContourX-200 – Hệ thống đo lường biên dạng bề mặt benchtop linh hoạt cho đo kết cấu bề mặt

Máy đo biên dạng bề mặt quang học ContourX-200 mang đến sự kết hợp hoàn hảo giữa khả năng đặc trưng hóa tiên tiến, các tùy chọn cấu hình linh hoạt và tính dễ sử dụng, để cung cấp một giải pháp đo lường biên dạng bề mặt 3D không tiếp xúc, với tốc độ nhanh, độ chính xác cao và khả năng lặp lại xuất sắc, thuộc hàng đầu trong ngành.

Hệ thống benchtop nhỏ gọn, đạt chuẩn kiểm chuẩn (gage-capable), vẫn đảm bảo đầy đủ khả năng đo 2D/3D độ phân giải cao, nhờ được trang bị:

• Camera kỹ thuật số 5 MP với trường nhìn lớn hơn,

• Bàn dịch XY tự động mới (motorized XY stage) giúp tăng khả năng quét và khâu ảnh.

ContourX-200 còn được tích hợp đầy đủ với phần mềm Vision64® – phần mềm vận hành và phân tích tiên tiến nhất hiện nay trong ngành đo lường. Bên cạnh đó, giao diện người dùng mới VisionXpress™ đơn giản hơn, giúp thao tác dễ dàng hơn, đồng thời cung cấp quyền truy cập nhanh đến thư viện bộ lọc và phân tích phong phú, phù hợp cho các ứng dụng như:

• Bề mặt gia công chính xác,

• Màng dày,

• Bán dẫn,

• Nhãn khoa,

• Thiết bị y tế,

• MEMS,

• Tribology (ma sát học).

Hiệu suất đo bề mặt 3D hàng đầu

• Độ phân giải trục Z tốt nhất, không phụ thuộc vào độ phóng đại: Cho phép đo các đặc điểm bề mặt siêu nhỏ với độ chính xác cao, bất kể trường nhìn.

• Trường nhìn tiêu chuẩn lớn nhất: Hỗ trợ đo các mẫu có diện tích lớn mà vẫn đảm bảo chi tiết và độ phân giải cần thiết.

• 

  Thiết kế nhỏ gọn, ổn định cao và chịu rung tốt: Phù hợp cả trong phòng thí nghiệm lẫn môi trường sản xuất có rung động nhẹ.

Khả năng đo và phân tích mạnh mẽ

• Giao diện dễ sử dụng: Giúp người dùng thu được kết quả nhanh chóng và chính xác mà không cần nhiều thao tác phức tạp.

• Tích hợp khả năng tự động hóa: Cho phép thiết lập quy trình đo và phân tích lặp lại, giúp tiết kiệm thời gian và tăng năng suất.

• Thư viện bộ lọc và tùy chọn phân tích phong phú: Bao gồm đo độ nhám, kết cấu bề mặt, và các kích thước quan trọng (critical dimensions).

• Báo cáo phân tích tùy chỉnh theo chuẩn quốc tế như:

  • ISO 25178 – tiêu chuẩn đo 3D,

  • ASME B46.1 – tiêu chuẩn độ nhám bề mặt tại Mỹ,

  • ISO 4287 – tiêu chuẩn đo biên dạng bề mặt 2D.

Hiệu suất đo lường mạnh 

Dựa trên hơn 40 năm đổi mới công nghệ giao thoa ánh sáng trắng (WLI) độc quyền, máy đo biên dạng bề mặt quang học ContourX-200 mang lại kết quả với:

• Độ nhiễu thấp,

• Tốc độ đo nhanh,

• Độ chính xác và độ lặp lại cao, đáp ứng yêu cầu khắt khe của các ứng dụng đo lường biên dạng bề mặt và định lượng hiện đại.

Máy sử dụng:

• Nhiều loại vật kính hoán đổi,

• Khả năng nhận diện đặc điểm bề mặt tự động, cho phép theo dõi chi tiết trên nhiều trường nhìn khác nhau với độ phân giải trục Z đạt mức sub-nanomet, đảm bảo kết quả không phụ thuộc vào tỷ lệ hoặc kích thước mẫu.

Thiết bị đo lường biên dạng bề mặt ContourX-200 hoạt động ổn định trên mọi loại bề mặt, với độ phản xạ từ 0,05% đến 100%, phù hợp cho cả vật liệu hấp thụ ánh sáng mạnh lẫn bề mặt gương bóng.

Khả năng phân tích ứng dụng rộng rãi nhất

Nhờ tích hợp giao diện người dùng mạnh mẽ VisionXpress™ và Vision64®, máy cho phép thực hiện hàng ngàn kiểu phân tích tùy chỉnh nhằm tối ưu năng suất trong cả phòng thí nghiệm và xưởng sản xuất.

Các yếu tố nổi bật bao gồm:

• Camera mới với trường nhìn lớn hơn,

• Bàn XY tự động (motorized) tăng tính linh hoạt và khả năng throughput (xử lý nhiều mẫu trong thời gian ngắn).

Sự kết hợp giữa phần cứng và phần mềm mang lại khả năng:

• Truy cập nhanh đến hiệu suất quang học hàng đầu,

• Vượt trội hoàn toàn so với các hệ thống đo lường quang học tương đương trên thị trường hiện nay.

Để tìm hiểu thêm về tính năng của ContourX-200 vui lòng liên hệ chúng tôi để được tư vấn trực tiếp.