Máy đo biên dạng bề mặt quang học ContourX100

ContuorX100 - Máy đo biên dạng bề mặt quang học
Bệ mẫu ContourX100
ContuorX100 - Máy đo biên dạng bề mặt quang học
Bệ mẫu ContourX100
Máy đo biên dạng bề mặt quang học ContourX100 - Ảnh 3

Mô tả ngắn

Hãng sản xuất: Bruker

Các sản phẩm đo lường biên dạng bề mặt của Bruker có bề dày lịch sử trong việc hỗ trợ các nhà khoa học và kỹ sư tạo ra những khám phá đột phá, thúc đẩy các ứng dụng tiên tiến góp phần nâng cao chất lượng cuộc sống.

HỖ TRỢ NHANH

Thiết bị: 0983 169 517
Hóa chất: 0912 850 130

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

Máy đo biên dạng bề mặt CountourX 100 – Bruker

Máy đo biên dạng bề mặt quang học ContourX-100 của nhà phân phối Bruker – đã thiết lập một tiêu chuẩn mới cho việc đo lường bề mặt không tiếp xúc với độ chính xác và độ lặp lại cao, ở mức giá tối ưu nhất trong phân khúc.

Hệ thống có thiết kế nhỏ gọn, nhưng vẫn cung cấp khả năng đo 2D/3D độ phân giải cao mà không bị giới hạn, tích hợp trong một thiết bị tinh gọn được phát triển dựa trên hàng thập kỷ đổi mới công nghệ giao thoa ánh sáng trắng (WLI) độc quyền của Bruker.

ContourX100 - Máy đo biên dạng bề mặt BruckerMáy là một hệ thống đo biên dạng bề mặt benchtop đạt tiêu chuẩn gage-capable (đủ khả năng dùng trong kiểm soát chất lượng công nghiệp), được trang bị giao diện người dùng hiện đại, trực quan, cho phép truy cập dễ dàng vào thư viện bộ lọc và phân tích được lập trình sẵn, đặc biệt hữu ích cho các ứng dụng:

  • Bề mặt gia công chính xác,

  • Màng dày,

  • Các nghiên cứu về ma sát, mài mòn (tribology).

Đo lường biên dạng bề mặt 3D nhanh chóng và lặp lại cao

  • Độ phân giải Z tốt nhất trong ngành, không phụ thuộc vào độ phóng đại: Cho phép phát hiện các đặc điểm bề mặt cực nhỏ với độ chính xác cao dù ở bất kỳ trường nhìn nào.

  • Trường nhìn tiêu chuẩn lớn nhất: Cho phép khảo sát được cả những mẫu có diện tích lớn mà vẫn giữ độ phân giải chi tiết.

  • Thiết kế nhỏ gọn, chống rung tốt: Đảm bảo độ ổn định và khả năng lặp lại cao ngay cả trong môi trường phòng lab hoặc xưởng sản xuất không lý tưởng.

Khả năng đo và phân tích vượt trội

  • Giao diện thân thiện, dễ sử dụng: Giúp người dùng nhanh chóng thu được kết quả chính xác mà không cần kỹ thuật chuyên sâu.

  • Thư viện bộ lọc và công cụ phân tích phong phú: Bao gồm các tùy chọn phân tích độ nhám, kết cấu, biên dạng bề mặt, và kích thước quan trọng (Critical Dimensions).

  • Tùy chỉnh báo cáo phân tích theo tiêu chuẩn quốc tế, bao gồm:

    • ISO 25178 – tiêu chuẩn đo biên dạng bề mặt 3D,

    • ASME B46.1 – tiêu chuẩn Mỹ về độ nhám,

    • ISO 4287 – tiêu chuẩn đo lường biên dạng 2D.

Độ chính xác đo lường

Máy đo biên dạng bề mặt ContourX-100 là kết tinh của hơn 40 năm đổi mới công nghệ quang học độc quyền và vị thế dẫn đầu ngành trong lĩnh vực đo lường, đặc trưng bề mặt và tạo ảnh không tiếp xúc.

  • Thiết bị kết hợp công nghệ giao thoa ánh sáng trắng 3D (WLI) và tạo ảnh 2D, cho phép thực hiện nhiều phép phân tích chỉ trong một lần quét.

  • Hoạt động hiệu quả với mọi loại bề mặt có độ phản xạ từ 0,05% đến 100%, từ vật liệu siêu hấp thụ đến bề mặt bóng gương — điều mà rất ít hệ thống khác làm được.

Giá trị vượt trội & khả năng phân tích mạnh mẽ

  • Với hàng ngàn tùy chọn phân tích được tùy biến sẵn, cùng giao diện người dùng mạnh mẽ và dễ sử dụng:
    VisionXpress™ – Giao diện đơn giản cho người dùng phổ thông,
    Vision64® – Giao diện chuyên sâu cho phân tích nâng cao và lập báo cáo theo chuẩn công nghiệp.

  • ContourX-100 được tối ưu để mang lại hiệu quả cao cả trong phòng thí nghiệm nghiên cứu (R&D) và môi trường sản xuất thực tế, giúp kiểm tra nhanh – chính xác – đáng tin cậy.

Để tìm hiểu thêm về tính năng của ContourX100 vui lòng liên hệ chúng tôi để được tư vấn trực tiếp.

SẢN PHẨM BÁN CHẠY