Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC


Mô tả ngắn

Hãng sản xuất:

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC là loại thiết bị SEM để bàn đa năng, cho phép đạt được độ sạch kĩ thuật ở cấp độ vi mô. Với nhu cầu ngày càng tăng về phân tích các hạt nhỏ hơn ngoài phạm vi kính hiển vi quang học trong các ngành công nghiệp, Phenom ParticleX TC cho phép kính hiển vi điện tử quét tự động bằng phép đo phổ EDS. Đây là một lợi thế lớn so với kính hiển vi quang học vì nó cho phép phân loại hóa học các hạt, cung cấp hiểu biết về quy trình sản xuất và môi trường.

HỖ TRỢ NHANH

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC

Phenom ParticleX TC Desktop SEM là loại thiết bị SEM để bàn đa năng, cho phép đạt được độ sạch kĩ thuật ở cấp độ vi mô. Với nhu cầu ngày càng tăng về phân tích các hạt nhỏ hơn ngoài phạm vi kính hiển vi quang học trong các ngành công nghiệp (ô tô), Phenom ParticleX TC cho phép tự động hóa kính hiển vi điện tử quét bằng phép đo phổ EDS. Đây là một lợi thế lớn so với kính hiển vi quang học vì nó cho phép phân loại hóa học các hạt, cung cấp hiểu biết về quy trình sản xuất và môi trường.

Một số tính năng của kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC:

Độ sạch kĩ thuật

Với nhu cầu ngày càng tăng về phân tích các hạt nhỏ hơn ngoài phạm vi của kính hiển vi quang học trong các ngành công nghiệp (ô tô), Thermo Scientific Phenom ParticleX TC (Vệ sinh kỹ thuật) Desktop SEM cho phép sử dụng kính hiển vi điện tử quét tự động với phổ tia X phân tán năng lượng (EDS). Đây là một lợi thế lớn so với kính hiển vi quang học vì nó cho phép phân loại hóa học các hạt, cung cấp thông tin chi tiết tuyệt vời về quy trình sản xuất và/hoặc môi trường của bạn. Các báo cáo tiêu chuẩn tuân thủ VDA 19 / ISO 16232 hoặc ISO 4406/4407 hiện có sẵn.

Giao diện chung

Giao diện người dùng dựa trên công nghệ dễ sử dụng đã được chứng minh và áp dụng trong các sản phẩm Phenom Desktop SEM thành công. Giao diện cho phép cả người dùng hiện tại và người dùng mới nhanh chóng làm quen với hệ thống với ít đào tạo nhất. Phenom ParticleX Tc có buồng chứa và bệ mẫu có động cơ nhanh cho phép phân tích các mẫu có kích thước lên đến 100 mm x 100 mm

Máy dò điện tử thứ cấp

Máy dò điện tử thứ cấp (SED) có sẵn tùy chọn trên Phenom ParticleX TC Desktop SEM. SED thu thập các điện tử năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu. Do đó, đây là lựa chọn hoàn hảo để thể hiện thông tin chi tiết về bề mặt mẫu. SED có thể hữu ích cho các ứng dụng mà địa hình và hình thái là quan trọng. Điều này thường xảy ra khi nghiên cứu các cấu trúc vi mô, sợi hoặc hạt.

Bản đồ nguyên tố và đường quét

Đối với người dùng, chỉ cần nhấp và bắt đầu làm việc với chức năng lập bản đồ nguyên tố và quét đường của Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. Chức năng quét đường cho thấy sự phân bố nguyên tố được định lượng trong một biểu đồ đường.
Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC
Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX TC

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!

Quang điện tử
  • Nguồn nhiệt điện tử tuổi thọ dài (CeB 6 )
  • Dòng điện nhiều chùm tia
Phạm vi phóng đại quang điện tử 
  • 160 – 200.000 lần
Độ phóng đại quang học nhẹ
  • 3 -16 lần
Độ phân giải
  • <10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 và 7680 x 4800 pixel
Điện áp tăng tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi có thể điều chỉnh giữa chế độ hình ảnh và phân tích 4,8 kV và 20,5 kV
Mức chân không
  • Thấp – trung bình – cao
Máy dò
  • Máy dò electron tán xạ ngược (tiêu chuẩn)
  • Máy dò phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) (tiêu chuẩn)
  • Máy dò electron thứ cấp (tùy chọn)
Cỡ mẫu
  • Tối đa 100 mm x 100 mm ( chân căm 36 x 12 mm)
  • Tối đa 40 mm (h)
Thời gian tải mẫu
  • Ánh sáng quang học <5 s
  • Electron quang học <60 s