Thiết Bị Quang Phổ ICP-OES Ultima Expert của Horiba

Mô tả

Thiết bị quang phổ ICP-OES Ultima Expert với khả năng phân tích đồng thời nhiều nguyên tố với độ nhạy cao, phạm vi nồng độ rộng, tốc độ đo nhanh, độ ổn định vượt trội và thiết kế bền bỉ, giúp tối ưu hiệu suất trong cả nghiên cứu lẫn ứng dụng công nghiệp phức tạp.

Máy Ultima Expert là thiết bị ICP-OES hiệu suất cao, nổi bật với độ phân giải siêu cao – dưới 5 picomet ở vùng phổ UV và dưới 10 picomet ở vùng khả kiến – nhờ hệ quang học chất lượng cao, gồm lưới nhiễu xạ hội tụ mật độ cao và tiêu cự 1 m. Thiết kế Total Plasma View độc đáo kết hợp với chế độ quan sát theo mặt phẳng (radial viewing) nâng cao độ nhạy và ổn định trong phân tích dạng mẫu phức tạp.

Hệ thống sheath gas đặc biệt giúp máy ICP-OES duy trì độ ổn định vượt trội ngay cả với mẫu có tổng chất rắn hòa tan lên đến 30%. Ngoài ra, tùy chọn dual grating system tăng độ phân giải lên mức <6 pm trong dải phổ rộng, rất phù hợp cho phân tích đất hiếm, địa chất hoặc kim loại quý.

Thiết bị ICP-OES này cung cấp phạm vi phổ liên tục từ 120 nm đến 800 nm, với tùy chọn Far UV để nâng cao độ nhạy khi phân tích tố halogen hoặc các thành phần đặc biệt.

Ultima Expert sử dụng bộ dò HDD® (High Dynamic Detection) được cấp bằng sáng chế, cho phép phân tích từ ngưỡng sub-ppb đến phần trăm trong cùng một lần đo – mở rộng dải động đo đến 10 bậc thang khi dùng chế độ “Image”.

Phần mềm điều khiển bao gồm công cụ Image Navigator cho phân tích bán định lượng bằng phổ toàn vùng; công cụ MASTER kết hợp cơ sở dữ liệu S³-base giúp tự động chọn bước sóng phù hợp; cùng nhiều chức năng hỗ trợ phân tích nhanh nhạy và chuẩn hóa phương pháp đo dễ dàng.

Với nền tảng hơn 35 năm phát triển trong lĩnh vực ICP-OES, Ultima Expert đã được tối ưu cho các ngành công nghiệp nặng như khai khoáng, hóa chất, muối, dầu mài mòn, hóa dầu, luyện kim và tinh chế kim loại quý nhờ vận hành ổn định và công cụ hỗ trợ thông minh.

Thiết bị quang phổ ICP-OES độ phân giải cao, độ nhạy cao và độ ổn định cao

• ICP-OES Ultima Expert mang lại hiệu suất cao nhất trên thị trường, được thiết kế đặc biệt để xử lý những ứng dụng thách thức nhất.
• Thiết kế quang học chất lượng cao, tích hợp cách tử nhiễu xạ holographic mật độ cao và tiêu cự 1 mét, kết hợp với tính năng Total Plasma View độc đáo, mang lại độ phân giải cao nhất thị trường cùng với độ nhạy và độ ổn định tối ưu cho các ứng dụng yêu cầu khắt khe.
• Quan sát theo hướng xuyên tâm (Radial viewing) và Total Plasma View, cung cấp giới hạn phát hiện thấp nhất trong quang phổ ICP-OES.
• Tính năng sheath gas độc đáo cho độ ổn định vượt trội khi phân tích các mẫu có hàm lượng chất rắn hòa tan cao, lên đến 30% TDS (Total Dissolved Solids).
• Phạm vi bước sóng liên tục từ 120–800 nm, với tùy chọn Far UV giúp cải thiện độ nhạy trong phân tích halogen hoặc lựa chọn bước sóng thay thế.
• Độ phân giải quang phổ vượt trội, giảm thiểu nhiễu phổ với <5 pm cho bước sóng trong khoảng 120–320 nm.
• Tùy chọn hệ thống hai cách tử (dual grating), mang lại độ phân giải <6 pm đến 450 nm, lý tưởng cho các ma trận giàu vạch phổ như đất hiếm, vật liệu địa chất hoặc kim loại quý.
• Thiết bị HiStab độc đáo, đảm bảo độ ổn định đặc biệt cho các ứng dụng đòi hỏi khắt khe.
• Công nghệ phát hiện HDD® đã được cấp bằng sáng chế, cho phép phân tích trong dải rộng từ mức sub-ppb đến phần trăm chỉ trong một phép đo.
• Dải động lên đến 10 bậc độ lớn khi sử dụng công nghệ Image.
• Tùy chọn bộ đa sắc kế (polychromator) 0,5 m hoặc 1 m, cho phép phân tích đồng thời.

Image Navigator của thiết bị ICP-OES Ultima Expert

• Image Navigator được thiết kế cho phân tích bán định lượng nhờ khả năng thu nhận toàn bộ phổ.
• Hiển thị toàn bộ phổ với khả năng hiển thị nhiều phổ cùng lúc.
• So sánh trực quan nhờ khả năng chồng phổ.
• Phân tích định tính và bán định lượng tự động.

MASTER, dễ dàng tìm đúng bước sóng

MASTER tích hợp trong thiết bị ICP-OES này hỗ trợ phát triển phương pháp bằng cách tự động lựa chọn các vạch phổ phù hợp theo dải nồng độ của từng nguyên tố và nền mẫu. MASTER được xây dựng dựa trên cơ sở dữ liệu độc quyền S3, phát triển từ phổ ICP thực tế, chứa hơn 50.000 bước sóng với đầy đủ dữ liệu phổ học.

• Tự động chọn bước sóng
• Hiển thị phổ tổng hợp
• Tiêu chí về độ nhạy, dải động và mức độ nhiễu để điều chỉnh lựa chọn vạch phổ

S3-base viewer

S3-base viewer trong ICP-OES giúp hiển thị toàn bộ cơ sở dữ liệu S3-base để hỗ trợ nhận diện các vạch phát xạ trong các mẫu chưa biết.

• Toàn bộ cơ sở dữ liệu S3-base có sẵn
• Hiển thị bước sóng của chất phân tích cùng cường độ tương đối và giới hạn phát hiện
• Hiển thị danh sách các vạch phát xạ tiềm năng, bao gồm cả các vạch đặc trưng của plasma, trong vùng lân cận của một bước sóng đã chọn với cường độ tương đối và giới hạn phát hiện của chúng
• Biểu đồ hiển thị vạch phát xạ của chất phân tích và các vạch phát xạ tiềm năng để hỗ trợ nhận diện dễ dàng hơn

Nếu bạn cảm thấy hứng thú hãy liên hệ với chúng tôi ngay để nhận thêm thông tin chi tiết!