Kính hiển vi lực nguyên tử NTEGRA SPECTRA II – NT – MDT Spectruments Instruments

NTEGRA Spectra II – Hệ thống AFM-Raman-TIP-TERS đa năng

NTEGRA Spectra II là hệ thống tiên tiến nhất hiện nay, tích hợp đồng thời ba công nghệ: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM), Kính hiển vi Raman và Tip-Enhanced Raman Scattering (TERS). Hệ thống này mang đến khả năng phân tích vật liệu ở cấp độ nano với độ phân giải vượt trội và độ chính xác cao, phù hợp với các nghiên cứu trong lĩnh vực vật liệu, sinh học, điện tử và hóa học.

Tích hợp vượt trội

NTEGRA Spectra II là hệ thống đầu tiên trên thị trường tích hợp liền mạch hai công nghệ hàng đầu: AFM và kính hiển vi Raman.

Từ phân tích hình thái bề mặt đến phân tích phổ, từ tính chất điện và cơ học đến độ phân giải không gian quang học dưới giới hạn nhiễu xạ. Giờ đây, các nhà khoa học có thể thực hiện phân tích toàn diện bề mặt của mẫu cùng với nghiên cứu hóa học trên cùng một khu vực quan tâm. Các nhà nghiên cứu hiện tại được mở ra khả năng vô tận để mở rộng năng lực phòng thí nghiệm của mình.

TERS bằng chế độ HybriD™

Tip-Enhanced Raman Scattering (TERS) cho phép thực hiện phân tích phổ và hiển vi với độ phân giải ở cấp nanomet.

Việc chụp ảnh TERS yêu cầu tiếp xúc lâu dài giữa đầu dò và mẫu tại mỗi điểm quét, nhưng AFM tiếp xúc thông thường có thể gây hư hại cả đầu dò lẫn mẫu.

Do đó, HybriD Mode™ là kỹ thuật vượt trội cho TERS kiểu cần vì nó kéo dài đáng kể tuổi thọ đầu dò, cho phép nghiên cứu không phá hủy, và đồng thời hỗ trợ đo lường cơ học nano định lượng (Quantitative Nanomechanics).

Kết quả minh họa trên mảnh graphene oxide cho thấy HybriD Mode™ tăng cường hiệu quả tín hiệu Raman đồng thời giảm đáng kể tác động cơ học lên mẫu và đầu dò trong quá trình quét.

ScanT™ Thông Minh

Chương trình ScanT™ được phát triển với sự hỗ trợ của mạng nơ-ron nhân tạo, cho phép tự động điều chỉnh các tham số quét khi chụp hình bằng AM-AFM (tapping mode).

Hệ thống duy trì tự động các chế độ tương tác hấp dẫn (không tiếp xúc) và chế độ tương tác đẩy (tiếp xúc gián đoạn).

Quét không có hiện tượng nhiễu hay sai lệch hình ảnh (artefact-free), hoạt động hoàn hảo trên các mẫu có mọi loại hình thái bề mặt.