Kính hiển vi lực nguyên tử NTEGRA II

NTEGRA II – Giải pháp AFM thế hệ mới cho nghiên cứu nano

Trong kỷ nguyên của khoa học nano, độ chính xác, tốc độ và sự linh hoạt không chỉ là mong muốn – mà là tiêu chuẩn bắt buộc.
NTEGRA II từ NT-MDT Spectrum Instruments ra đời chính là để thiết lập chuẩn mực mới trong lĩnh vực kính hiển vi lực nguyên tử (AFM), mang đến sức mạnh vượt trội cho các phòng thí nghiệm hiện đại.

Độ ổn định hàng đầu thế giới

• Hệ thống tích hợp vỏ bảo vệ chống rung, cách âm, kiểm soát nhiệt.

• Độ trôi nhiệt cực thấp: < 0,2 nm/phút, đảm bảo độ chính xác tuyệt đối cho các phép đo dài hạn.

ScanT™ – Quét thông minh bằng AI

• Tự động tối ưu tham số quét nhờ mạng nơ-ron nhân tạo.

• Duy trì cả chế độ không tiếp xúc và tiếp xúc gián đoạn,

• Cho hình ảnh không nhiễu, không sai lệch, kể cả với mẫu có hình thái phức tạp.

RapidScan™ – Tốc độ quét cực nhanh

• Quét 10 Hz với đầu dò tiêu chuẩn, lên tới 25 Hz với đầu dò ngắn tần số cao.

• Cho phép nghiên cứu động học và các quá trình bề mặt theo thời gian thực, không cần phần cứng bổ sung.

Thiết kế mở – Linh hoạt tối đa

• Kiến trúc mô-đun cho phép mở rộng theo nhu cầu.

• Dễ dàng tích hợp với các công nghệ quang phổ tiên tiến: Raman, nano-IR, s-SNOM, TERS…

• Nền tảng duy nhất có thể phát triển thành hệ thống phân tích đa kỹ thuật.

HybriD Mode™ – Bản đồ cơ học nano định lượng

• Đo chính xác độ cứng, độ bám dính, biến dạng, dòng điện…

• Cung cấp hình ảnh đa chiều, kết hợp cả thông tin cơ học và quang học ở thang nano.