Kính hiển vi lực nguyên tử kiểm soát môi trường AFM5300E – Hitachi

Đáp ứng nhu cầu đo lường trong các môi trường đặc thù

Kính hiển vi lực nguyên tử  AFM5300E kiểm soát môi trường này có khả năng đo trong những điều kiện mà các hệ AFM quy mô lớn thông thường không thể thực hiện. Thiết bị đo điện tử trong điều kiện chân không cao cho phép kiểm soát đến mức tối thiểu ảnh hưởng của hơi nước bề mặt và thực hiện lập bản đồ vật liệu của mẫu dưới các điều kiện gia nhiệt hoặc làm mát.

Chức năng mới phát triển “Temperature Sweep Function” cho phép tiến hành phép đo vật liệu liên tục cho đến khi đầu dò cantilever chạm vào bề mặt mẫu. Điều này đạt được bằng cách giám sát bên ngoài vùng đo trục Z, bù trừ cho sự giãn nở hoặc co ngót nhiệt của mẫu do thay đổi nhiệt độ môi trường, đồng thời áp dụng cơ chế phản hồi để đảm bảo độ chính xác.

Vận hành dễ dàng (nhờ mặt bích giữ mẫu tích hợp)

Bằng việc áp dụng “chức năng mở/đóng mặt bích giữ mẫu tích hợp” mà không cần đến các dụng cụ bổ trợ, quá trình thay thế bộ quét (scanner) và đưa mẫu vào được đơn giản hóa. Đồng thời, việc điều chỉnh lại trục quang học sau khi thay mẫu trong AFM kiểm soát môi trường cũng không còn cần thiết. Ngoài ra, ngàm giữ mẫu không cần phải thay đổi khi chuyển đổi giữa các chế độ đo khác nhau.

Hiệu suất vượt trội

Hệ thống được trang bị chức năng “Swing Cancel”, giúp triệt tiêu hoàn toàn dao động của mẫu và kiểm soát lượng trôi. Việc cải thiện, tinh chỉnh hiệu năng cơ bản đóng vai trò then chốt trong phân tích cấu trúc ở cấp độ nano.

• Độ trôi (drift): < 0,015 nm/giây → đảm bảo độ tin cậy cao trong mọi phép đo.

Cải thiện độ phân giải trong chế độ đo tính chất điện bằng cách giảm ảnh hưởng của nước hấp thụ trên bề mặt

Khi quan sát đặc tính điện, trong một số trường hợp độ phân giải có thể giảm do ảnh hưởng của hơi ẩm trên bề mặt mẫu hoặc đầu dò. Độ ẩm, tạp chất… trên bề mặt sẽ được loại bỏ khi đưa hệ thống về trạng thái chân không. Nhờ đó, việc quan sát mẫu trong chế độ vật liệu trở nên khả thi với độ phân giải cao và độ nhạy vượt trội.