Hệ thống CT microfocus cao cấp cho công nghiệp Phoenix V|tome|x M

Mô tả

Kiểm tra với độ chính xác, sức mạnh và năng suất

Phoenix V|tome|x M của Waygate Technologies là một hệ thống tủ CT microfocus tia X cực kỳ linh hoạt và chính xác dành cho đo lường và phân tích 3D.

Máy quét Dual|tube năng suất cao này, với ống tia X microfocus 300 kV và tùy chọn ống nanofocus 180 kV, mang lại độ chính xác cải thiện với tốc độ chưa từng có — giúp tối ưu hóa đáng kể kết quả nghiên cứu trong phòng thí nghiệm và quy trình kiểm soát chất lượng sản xuất để đáp ứng nhu cầu ngày càng tăng hiện nay và trong tương lai.

Hệ thống CT microfocus cao cấp công nghiệp cho đo lường và phân tích 3D

Hệ thống CT công nghiệp mạnh mẽ này, được thiết kế cho đo lường và phân tích 3D, cung cấp độ phóng đại hàng đầu ở mức 300 kV. Đây là máy quét microCT đầu tiên trên thế giới được trang bị phần mềm Scatter|reduce, giúp tự động loại bỏ nhiễu tán xạ để có chất lượng hình ảnh cao hơn.

Với nhiều loại đầu dò hiệu suất cao độc quyền và công nghệ CT microfocus tiên tiến, Phoenix V|tome|x M tạo ra cuộc cách mạng trong kiểm tra CT và đo lường 3D — cho phép quét nhanh hơn, sản lượng cao hơn mà vẫn duy trì chất lượng hình ảnh và độ chính xác đo lường.

Những tính năng nổi bật của CT microfocus Phoenix V|tome|x M

Nguồn X-ray mạnh mẽ và linh hoạt

Sử dụng ống microfocus 300 kV / 500 W (tùy chọn 240 kV / 320 W), tích hợp thêm ống nanofocus 180 kV / 20 W (tùy chọn) cho khảo sát độ phân giải cao.

Chống nhiễu Scatter|correct

Công nghệ xử lý ảnh loại bỏ nhiễu tán xạ, nâng cao chất lượng CT một cách tự động & nhanh chóng.

Detector Dynamic 41 hiệu suất cao

Bộ cảm biến ổn định về nhiệt với độ phân giải cao (pixel 200 µm hoặc 100 µm), cho chất lượng hình ảnh vượt trội và tốc độ thu CT nhanh.

Cơ cấu điều khiển 6 trục trên nền granite

Đảm bảo độ chính xác cao, linh hoạt thao tác mẫu và ổn định về nhiệt & rung.

Khả năng xử lý mẫu lớn

Scan được vật nặng đến 75 kg, đường kính tối đa 500 mm × 700 mm; cửa trượt lớn tiện thao tác và tải mẫu bằng cần trục.

Tự động hóa toàn diện

Hỗ trợ workflow ADR (Automatic Defect Recognition) qua X|approver và phần mềm Datos|x cho thu, tái tạo và phân tích dữ liệu hoàn toàn tự động.

Chế độ quét tiên tiến

Hỗ trợ chế độ Offset Scan, Helix Scan, Fast Scan, Sector Scan và Click & Measure để tối ưu tốc độ quét, chất lượng và độ bao phủ.

Độ chính xác metrology cao

Kết hợp công nghệ True|position và Ruby|plate đạt sai số đo theo chuẩn VDI 2630 – ở mức cực nhỏ ~ (3.8 + L/100) µm

Để tìm hiểu thêm thông tin chi tiết về sản phẩm hoặc các model tương đương vui lòng liên hệ chúng tôi để được tư vấn trực tiếp.