Máy quang phổ quang điện tử tia X Nexsa G2 XPS
Mô tả ngắn
Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific
Máy quang phổ quang điện tử tia X Nexsa G2 XPS của hãng ThermoFisher Scientific cung cấp khả năng phân tích bề mặt hoàn toàn tự động, thông lượng cao, cung cấp dữ liệu để thúc đẩy nghiên cứu và phát triển hoặc giải quyết các vấn đề sản xuất.
HỖ TRỢ NHANH
THÔNG TIN SẢN PHẨM
- Mô tả
- Tính năng
- Thông số kĩ thuật
Mô tả
Máy quang phổ quang điện tử tia X Nexsa G2 XPS
Máy quang phổ quang điện tử tia X Nexsa G2 XPS của hãng ThermoFisher Scientific cung cấp khả năng phân tích bề mặt hoàn toàn tự động, thông lượng cao, cung cấp dữ liệu để thúc đẩy nghiên cứu và phát triển hoặc giải quyết các vấn đề sản xuất.
Việc tích hợp XPS với quang phổ tán xạ ion (ISS), quang phổ điện tử tia cực tím (UPS), quang phổ mất năng lượng điện tử phản xạ (REELS) và quang phổ Raman cho phép bạn tiến hành phân tích tương quan thực sự. Hệ thống hiện bao gồm các tùy chọn để gia nhiệt mẫu và khả năng phân cực mẫu để tăng phạm vi các thí nghiệm hiện có thể thực hiện được.
Hệ thống phân tích bề mặt Nexsa G2 mở ra tiềm năng cho những tiến bộ trong khoa học vật liệu, vi điện tử, phát triển công nghệ nano và nhiều ứng dụng khác.
Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!
Nguồn tia X hiệu suất cao
Máy đơn sắc tia X công suất thấp mới cho phép lựa chọn vùng phân tích từ 10 µm đến 400 µm theo các bước 5 µm, đảm bảo dữ liệu được thu thập từ đặc điểm quan tâm đồng thời tối đa hóa tín hiệu.
Quang học điện tử được tối ưu hóa
Ống kính điện tử hiệu suất cao, máy phân tích hình bán cầu và máy dò cho phép phát hiện tuyệt vời và thu thập dữ liệu nhanh chóng.
Xem mẫu
Làm nổi bật các tính năng mẫu bằng hệ thống xem quang học được cấp bằng sáng chế của Hệ thống Nexsa XPS và XPS SnapMap, giúp bạn xác định nhanh các khu vực quan tâm bằng hình ảnh XPS được lấy nét hoàn toàn.
Phân tích chất cách điện
Nguồn chùm tia kép được cấp bằng sáng chế kết hợp các chùm ion năng lượng thấp với các electron năng lượng rất thấp (dưới 1 eV) để ngăn mẫu tích điện trong quá trình phân tích, giúp loại bỏ nhu cầu tham chiếu điện tích, giúp việc phân tích dữ liệu từ các mẫu cách điện trở nên dễ dàng và đáng tin cậy.
Độ sâu
Vượt ra ngoài bề mặt với nguồn ion tiêu chuẩn hoặc MAGCIS, nguồn ion cụm khí và đơn nguyên tử chế độ kép tùy chọn; tối ưu hóa nguồn tự động và xử lý khí đảm bảo hiệu suất tuyệt vời và khả năng tái tạo thử nghiệm.
Giá đỡ mẫu tùy chọn
Có sẵn các giá đỡ mẫu chuyên dụng để phân tích XPS theo góc, đo độ lệch mẫu hoặc để chuyển mẫu trơ từ hộp đựng găng tay.
Kiểm soát kỹ thuật số
Việc kiểm soát thiết bị, xử lý dữ liệu và báo cáo đều được điều khiển từ hệ thống dữ liệu Avantage dựa trên phần mềm Windows.
Mô-đun gia nhiệt mẫu NX
Tùy chọn gia nhiệt mẫu được điều khiển hoàn toàn bằng phần mềm, cho phép nghiên cứu theo nhiệt độ.
| Loại máy phân tích |
|
| Loại nguồn tia X |
|
| Kích thước điểm X-quang |
|
| Độ sâu |
|
| Diện tích mẫu tối đa |
|
| Độ dày mẫu tối đa |
|
| Hệ thống chân không |
|
| Phụ kiện tùy chọn |
|
