Kính hiển vi điện tử truyền qua Spectra 200 TEM
Mô tả ngắn
Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific
Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, kính hiển vi điện tử truyền qua (quét) có hiệu chỉnh quang sai, thông lượng cao dành cho mọi ứng dụng khoa học vật liệu. Tất cả Spectra 200 (S)TEM đều được cung cấp trên các nền tảng mới được thiết kế để mang lại mức độ ổn định cơ học và chất lượng hình ảnh cao nhất thông qua khả năng ngăn rung động thụ động và chủ động (tùy chọn).
HỖ TRỢ NHANH
THÔNG TIN SẢN PHẨM
- Mô tả
- Tính năng
- Thông số kĩ thuật
Mô tả
Kính hiển vi điện tử truyền qua Spectra 200 TEM
Để các nhà khoa học có thể nâng cao hiểu biết về các mẫu phức tạp và phát triển các vật liệu cải tiến, họ phải có quyền truy cập vào các thiết bị đo lường mạnh mẽ, chính xác có khả năng liên hệ hình thức và chức năng, cũng như phân tích không gian, thời gian và tần số.
ThermoFisher Scientific giới thiệu Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, kính hiển vi điện tử truyền qua (quét) có hiệu chỉnh quang sai, thông lượng cao dành cho mọi ứng dụng khoa học vật liệu.
Ưu điểm của kính hiển vi điện tử truyền qua Spectra 200
Tất cả Spectra 200 (S)TEM đều được cung cấp trên các nền tảng mới được thiết kế để mang lại mức độ ổn định cơ học chưa từng có và chất lượng hình ảnh cao nhất thông qua khả năng cách ly rung động thụ động và chủ động (tùy chọn).
Hệ thống được đặt trong một vỏ bọc được thiết kế lại hoàn toàn với màn hình hiển thị tích hợp trên màn hình để nạp và tháo mẫu một cách thuận tiện. Lần đầu tiên, tính mô-đun và khả năng nâng cấp đầy đủ có thể được cung cấp giữa các cấu hình chưa hiệu chỉnh và đã hiệu chỉnh một lần với chiều cao thay đổi, cho phép tính linh hoạt tối đa cho các cấu hình phòng khác nhau.
Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!
Được cung cấp năng lượng bởi súng phát xạ trường lạnh có độ sáng cực cao (X-CFEG)
Spectra 200 (S)TEM có thể được cấp nguồn bằng súng phát xạ trường lạnh mới (X-CFEG). X-CFEG có độ sáng cực cao (>>1,0 x 10 8 A/m 2 /Sr/V*), độ lan truyền năng lượng thấp và có thể vận hành từ 30 – 200 kV. Điều này cung cấp hình ảnh STEM có độ phân giải cao với dòng điện đầu dò cao để phân tích STEM có thông lượng cao, thu thập nhanh. Với sự kết hợp mạnh mẽ của X-CFEG và bộ hiệu chỉnh quang sai đầu dò S-CORR, có thể thường xuyên đạt được hình ảnh STEM dưới Angstrom với dòng điện đầu dò trên 1000 pA.
Hơn nữa, dòng điện thăm dò có thể được điều chỉnh linh hoạt từ <1 pA đến phạm vi nA với khả năng kiểm soát chính xác súng và quang học tụ điện, tất cả đều có tác động tối thiểu đến quang sai thăm dò, do đó có thể đáp ứng được phạm vi mẫu vật và thí nghiệm rộng nhất.
Thế hệ X-CFEG mới này cũng tạo ra đủ dòng chùm tia tổng cộng (>14 nA) để hỗ trợ các thí nghiệm hình ảnh TEM tiêu chuẩn (ví dụ tại chỗ ) với các đầu dò song song lớn, khiến nó trở thành C-FEG đa năng nhưng có hiệu suất cao.
Hiệu suất hình ảnh STEM độ phân giải cao cho tất cả các điện áp tăng tốc
Sự kết hợp giữa độ ổn định cơ học được tăng cường, hiệu chỉnh quang sai đầu dò S-CORR bậc 5 mới nhất và X-CFEG, mang lại cho Spectra 200 (S)TEM khả năng chụp ảnh STEM có độ phân giải, độ tương phản cao cho mọi điện áp tăng tốc.
Ngoài ra, Spectra 200 (S)TEM vẫn giữ nguyên ống kính vật kính S-TWIN có khoảng cách rộng theo tiêu chuẩn từ dòng sản phẩm Themis, để đảm bảo khách hàng có khoảng cách cực mà không ảnh hưởng đến độ phân giải không gian.
Spectra 200 (S)TEM cung cấp thông số kỹ thuật độ phân giải STEM là 60 pm ở 200 kV, 96 pm ở 60 kV và 125 pm ở 30 kV.
Độ nhạy chưa từng có với hệ thống phát hiện Panther STEM
Hình ảnh STEM trên Spectra 200 (S)TEM đã được tái hiện với hệ thống phát hiện STEM Panther, bao gồm kiến trúc thu thập dữ liệu mới và hai máy dò STEM dạng vòng và đĩa tám đoạn, trạng thái rắn mới (tổng cộng 16 đoạn). Hình dạng máy dò mới cung cấp khả năng truy cập vào khả năng hình ảnh STEM tiên tiến kết hợp với độ nhạy để đo các electron đơn lẻ.
Toàn bộ tín hiệu được tối ưu hóa và điều chỉnh để cung cấp khả năng chụp ảnh tín hiệu trên nhiễu chưa từng có với liều cực thấp để tạo điều kiện chụp ảnh các vật liệu nhạy chùm tia. Ngoài ra, cơ sở hạ tầng thu thập dữ liệu được phát triển lại hoàn toàn có thể kết hợp các phân đoạn máy dò riêng lẻ khác nhau, với khả năng kết hợp các phân đoạn máy dò theo những cách tùy ý trong tương lai, tạo ra các phương pháp chụp ảnh STEM mới và tiết lộ thông tin không có trong các kỹ thuật STEM thông thường. Kiến trúc này cũng có thể mở rộng và cung cấp giao diện để đồng bộ hóa nhiều tín hiệu STEM và quang phổ.
Khả năng chụp ảnh STEM tiên tiến
Spectra 200 (S)TEM có thể được cấu hình bằng máy dò mảng điểm ảnh kính hiển vi điện tử (EMPAD) hoặc Camera Ceta Thermo Scientific có chức năng tăng cường tốc độ để thu thập bộ dữ liệu STEM 4D.
EMPAD có khả năng chịu điện áp 30-300 kV và cung cấp dải động cao (1:1.000.000 e – giữa các điểm ảnh), tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cao (1/140 e – ) và tốc độ cao (1100 khung hình mỗi giây) trên mảng điểm ảnh 128 x 128, khiến nó trở thành máy dò tối ưu cho các ứng dụng STEM 4D.
Camera Ceta với khả năng tăng tốc cung cấp một giải pháp thay thế cho các ứng dụng STEM 4D khi cần nhiều pixel hơn và khi cần kết hợp phân tích EDX với từng điểm trong quét STEM. Giải pháp này cung cấp các mẫu nhiễu xạ có độ phân giải cao hơn (độ phân giải lên đến 512 x 512 pixel), phù hợp cho các ứng dụng như đo biến dạng.
Khả năng mới trong phân tích STEM với Spectra 200 S/TEM
Spectra 200 (S)TEM đã được cấu hình để trở thành một công cụ phân tích STEM mạnh mẽ. Độ sáng cực cao và độ lan truyền năng lượng thấp của X-CFEG, bộ hiệu chỉnh đầu dò S-CORR bậc 5 thế hệ mới nhất, cực có khoảng cách rộng (S-TWIN hoặc X-TWIN) với danh mục các đầu dò EDS góc khối và đối xứng lớn và công cụ định lượng EDX tích hợp trong Phần mềm Thermo Scientific Velox giúp STEM EDX trên Spectra 200 (S)TEM nhanh chóng, dễ dàng và có thể định lượng được.
Spectra 200 (S)TEM có thể được cấu hình bằng Super-X (để làm sạch phổ và định lượng) hoặc Dual-X (để lập bản đồ STEM EDX góc khối lớn nhất và thông lượng cao).
Hệ thống máy dò Super-X cung cấp góc khối chuẩn trực cao 0,7 Sr và số Fiori lớn hơn 4000. Hệ thống này được thiết kế cho các thí nghiệm STEM EDX trong đó độ sạch quang phổ và định lượng là rất quan trọng.
Hệ thống máy dò Dual-X cung cấp góc khối 1,76 Sr và số Fiori lớn hơn 2000. Hệ thống này được thiết kế cho các thí nghiệm STEM EDX thông lượng cao như chụp cắt lớp EDS hoặc khi năng suất tín hiệu thấp và việc lập bản đồ nhanh là rất quan trọng.
| Phổ 200 (S)TEM |
|
| Nguồn |
|
| Phân tích và phát hiện |
|
| Tùy chọn máy dò có sẵn |
|
