Sản phẩm - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ Scios 2 DualBeam

Mô tả

Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ Scios 2 DualBeam

Kính hiển vi điện tử quét Scios 2 DualBeam của hãng ThermoFisher Scientific là hệ thống kính hiển vi điện tử quét chùm ion tập trung phân tích (FIB-SEM) có độ phân giải cực cao, cung cấp khả năng chuẩn bị mẫu và hiệu suất mô tả 3D vượt trội cho nhiều loại mẫu, bao gồm vật liệu từ tính và không dẫn điện. Với các tính năng cải tiến được thiết kế để tăng thông lượng, độ chính xác và dễ sử dụng, Scios 2 DualBeam là giải pháp lý tưởng đáp ứng nhu cầu của các nhà khoa học và kỹ sư trong nghiên cứu và phân tích nâng cao trong môi trường nghiên cứu học thuật, chính phủ và công nghiệp.

Đặc điểm bề mặt bên dưới

Đặc tính dưới bề mặt hoặc ba chiều thường được yêu cầu để hiểu rõ hơn về cấu trúc và tính chất của mẫu. Scios 2 DualBeam, với Phần mềm Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) tùy chọn, cho phép thu thập dữ liệu 3D đa phương thức chất lượng cao, hoàn toàn tự động, bao gồm hình ảnh điện tử tán xạ ngược (BSE) để có độ tương phản vật liệu tối đa, phổ tán xạ năng lượng (EDS) để biết thông tin về thành phần và nhiễu xạ tán xạ ngược điện tử (EBSD) để biết thông tin về cấu trúc vi mô và tinh thể học.

Kết hợp với Phần mềm Thermo Scientific Avizo, Scios 2 DualBeam cung cấp giải pháp quy trình làm việc độc đáo để phân tích và đặc tính 3D tiên tiến, độ phân giải cao ở quy mô nanomet.

Hình ảnh điện tử tán xạ ngược và điện tử thứ cấp

Cột điện tử NICol cải tiến phát hiện và chụp ảnh có độ phân giải cao. Nó cung cấp các chi tiết tuyệt vời ở quy mô nano, với nhiều điều kiện làm việc, cho dù hoạt động ở 30 keV ở chế độ STEM (để truy cập thông tin cấu trúc) hay ở năng lượng thấp hơn (để có được thông tin bề mặt chi tiết, không có điện tích).

Với Hệ thống phát hiện Thermo Scientific Trinity độc đáo trong ống kính, Scios 2 DualBeam được thiết kế để thu thập đồng thời hình ảnh điện tử thứ cấp (SE) và BSE chọn lọc năng lượng và góc. Có thể truy cập nhanh vào thông tin chi tiết ở quy mô nano không chỉ từ trên xuống mà còn trên các mẫu vật nghiêng hoặc mặt cắt ngang.

Các đầu dò bên dưới ống kính tùy chọn và chế độ giảm tốc chùm tia điện tử đảm bảo thu thập đồng thời nhanh chóng và dễ dàng tất cả các tín hiệu, tiết lộ các đặc điểm nhỏ nhất trên bề mặt hoặc mặt cắt ngang của vật liệu.

Chuẩn bị mẫu TEM

Những cải tiến công nghệ mới nhất của Scios 2 DualBeam, kết hợp với Phần mềm Thermo Scientific AutoTEM 4 tùy chọn, dễ sử dụng, toàn diện và chuyên môn ứng dụng của Thermo Fisher Scientific, cho phép chuẩn bị nhanh chóng và dễ dàng các mẫu S/TEM có độ phân giải cao tại chỗ cho nhiều loại vật liệu. Để đạt được kết quả chất lượng cao, cần phải đánh bóng cuối cùng bằng các ion năng lượng thấp để giảm thiểu thiệt hại bề mặt trên mẫu. Cột Chùm ion hội tụ (FIB) Sidewinder HT của Thermo Scientific không chỉ cung cấp hình ảnh và phay có độ phân giải cao ở điện áp cao mà còn cung cấp hiệu suất điện áp thấp tốt, cho phép tạo ra các phiến TEM chất lượng cao.

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!

Độ phân giải chùm tia điện tử	WD tối ưu 0,7 nm ở 30 keV STEM 1,4 nm ở 1 keV 1,2 nm ở 1 keV với sự giảm tốc chùm tia
Tham số chùm electron	Phạm vi dòng điện chùm tia: 1 pA đến 400 nA Phạm vi năng lượng tới: 20* eV – 30 keV Phạm vi điện áp tăng tốc: 200 V – 30 kV Chiều rộng trường ngang tối đa: 3,0 mm ở 7 mm WD và 7,0 mm ở 60 mm WD Trường nhìn cực rộng (1×) có sẵn thông qua lắp ghép dẫn đường tiêu chuẩn
Quang học ion	Điện áp tăng tốc: 500 V – 30 kV Phạm vi dòng điện chùm tia: 1,5 pA – 65 nA Dải khẩu độ 15 vị trí Chế độ ngăn chặn trôi dạt theo tiêu chuẩn cho các mẫu không dẫn điện Tuổi thọ nguồn tối thiểu: 1.000 giờ Độ phân giải chùm ion: 3,0 nm ở 30kV sử dụng phương pháp cạnh chọn lọc
Máy dò	Hệ thống phát hiện Trinity (trong ống kính và trong cột) Bộ dò phân đoạn T1 ở dưới ống kính Bộ dò trên ống kính T2 Máy dò trong cột có thể thu vào T3 (Tùy chọn) Có thể phát hiện đồng thời tối đa bốn tín hiệu Máy dò Everhart-Thornley SE (ETD) Máy dò ion và electron (ICE) hiệu suất cao dành cho các ion thứ cấp (SI) và electron (SE) (Tùy chọn) Máy dò điện tử tán xạ ngược trạng thái rắn (DBS) phân đoạn, độ tương phản cao, điện áp thấp có thể thu vào (Tùy chọn) Máy dò STEM 3+ có thể thu vào với các phân đoạn BF/ DF/ HAADF (Tùy chọn) Camera IR để xem mẫu và buồng Camera dẫn đường mẫu Nav-Cam trong buồng lái (Tùy chọn) Đo dòng chùm tích hợp
Bàn mẫu và mẫu	Bàn di chuyển động cơ 5 trục linh hoạt: Phạm vi XY: 110 mm Phạm vi Z: 65 mm Xoay: 360° (vô tận) Phạm vi nghiêng: -15° đến +90° Độ lặp lại XY: 3 μm Chiều cao mẫu tối đa: Khoảng cách 85 mm đến điểm tâm Trọng lượng mẫu tối đa ở góc nghiêng 0°: 5 kg (bao gồm cả giá đỡ mẫu) Kích thước mẫu tối đa: 110 mm với vòng quay đầy đủ (có thể lấy mẫu lớn hơn với vòng quay hạn chế) Quay và nghiêng máy tính