Mô tả

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX Steel

 

Kiểm soát tạp chất phi kim loại trong quá trình sản xuất thép là một kỹ năng quan trọng để sản xuất hiệu quả thép hiện đại được yêu cầu bởi khách hàng ngày nay. Để cạnh tranh trong thời đại ngày nay, sản xuất thép đòi hỏi kiến ​​thức về các thông số kiểm soát sự hình thành các tạp chất phi kim loại trong thép. Dữ liệu kịp thời và chính xác là điều kiện tiên quyết để đạt yêu cầu trong việc sản xuất thép có giá trị cao. Ngoài việc cung cấp phân tích SEM chất lượng cao, Thermo Scientific™ Phenom™ ParticleX Steel Desktop SEM cũng được thiết kế để thực hiện một số chức năng cụ thể, bao gồm: Phân tích hạt của bột kim loại ở quy mô vi mô cho ngành công nghiệp phụ gia, xác nhận thành phần đáp ứng yêu cầu về độ sạch kỹ thuật và phân tích các tạp chất trong thép. Tất cả đều được thực hiện ngay trong nhà và trên máy tính để bàn của bạn.

Một số tính năng của Phenom ParticleX Steel Desktop SEM:

Dấu chân nhỏ

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX Steel chỉ cần một nền/tường tiêu chuẩn, cho phép đặt bất cứ nơi đâu mà không cần phải thay đổi cơ sở hạ tầng. EDS tích hợp cho phép người dùng chỉ cần nhấp và làm việc với bản đồ nguyên tố và đường quét, hiển thị phân phối nguyên tố định lượng trong biểu đồ đường.

Dễ sử dụng

Giao diện người dùng dựa trên công nghệ dễ sử dụng đã được chứng minh được áp dụng trong Phenom Desktop SEM thành công . Giao diện cho phép cả khách hàng hiện tại và khách hàng mới nhanh chóng làm quen với hệ thống với thời gian đào tạo tối thiểu. Độ sáng cao của nguồn CeB ₆ độc đáo hỗ trợ chụp ảnh chi tiết cao cũng như phân tích tự động nhanh chóng các tạp chất thép.

Tương lai bền vững

Trong khi các quy tắc phân loại mặc định và công thức phân tích cho phép bạn nhanh chóng bắt đầu phân tích tạp chất thép, thì phân loại và công thức có thể tùy chỉnh hoàn toàn. Điều này cho phép bạn nắm bắt những hiểu biết mới trong các công thức được cập nhật.

Thông số kĩ thuật

Khoảng phóng đại quang điện tử	160 – 200.000 lần
Độ phóng đại quang học	3 – 16 lần
Độ phân giải	<10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh	960×600, 1920×1200, 3840×2400, 7680×4800 pixel
Điện áp tăng tốc	Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV Chế độ nâng cao: phạm vi có thể điều chỉnh giữa chế độ hình ảnh và phân tích 4,8 kV và 20,5 kV
Mức chân không	Thấp – trung bình – cao
Máy dò	Máy dò electron tán xạ ngược (tiêu chuẩn) Máy dò phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) (tiêu chuẩn) Máy dò electron thứ cấp (tùy chọn)
Cỡ mẫu	Tối đa 100×100 mm (chốt 36×12 mm) Chiều cao tối đa 40 mm (tùy chọn lên đến 65 mm)
Thời gian tải mẫu	Ánh sáng quang học <5 s Quang điện tử <60 s

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!