Mô tả ngắn

Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM là thiết bị đa năng được thiết kế cho sản xuất phụ gia, mang lại độ tinh khiết ở cấp độ vi mô. Phenom ParticleX AM Desktop SEM cho phép: giám sát các đặc tính quan trọng của bột kim loại; cải thiện quy trình sản xuất phụ gia dạng bột và dạng bột của riêng khách hàng; xác định phân bố kích thước hạt, hình thái hạt riêng lẻ và các hạt lạ.

HỖ TRỢ NHANH

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM của hãng Thermo Scientific là kính hiển vi điện tử quét để bàn đa năng được thiết kế cho sản xuất phụ gia, mang lại độ tinh khiết ở cấp độ vi mô. Thiết bị có một buồng chứa đủ lớn để phân tích các mẫu có kích thước lên đến 100 mm x 100 mm. Cơ chế thông gió và nạp độc quyền đảm bảo chu kỳ thông gió/nạp nhanh nhất thế giới, mang lại thông lượng cao nhất.

Với Phenom ParticleX AM Desktop SEM, bạn có thể kiểm soát dữ liệu của mình ngay tại nhà:

  • Giám sát các đặc tính quan trọng của bột kim loại
  • Cải thiện quy trình sản xuất phụ gia dạng bột và dạng bột của riêng khách hàng.
  • Xác định phân bố kích thước hạt, hình thái hạt riêng lẻ và các hạt lạ.

 

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM
Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!

Một số tính năng chính của Phenom ParticleX AM:

Phân tích hạt SEM

Phenom ParticleX AM Desktop SEM có buồng với bệ cơ giới hóa chính xác và nhanh chóng cho phép phân tích các mẫu có kích thước lên đến 100 mm x 100 mm. Ngay cả với kích thước mẫu lớn hơn này, bộ phận nạp mẫu độc quyền vẫn giữ chu kỳ xả khí/nạp mẫu ở thời gian nạp mẫu hàng đầu trong ngành là 60 giây hoặc ít hơn, mang lại năng suất hiệu quả các hệ thống SEM khác.

Thử nghiệm sản xuất phụ gia

Phenom ParticleX AM Desktop SEM đo nhiều thông số về kích thước và hình dạng, chẳng hạn như đường kính tối thiểu và tối đa, chu vi, tỷ lệ khung hình, độ nhám và đường kính feret. Tất cả những thông số này có thể được hiển thị với các giá trị 10%, 50% hoặc 90% (tức là d10, d50, d90).

Bản đồ nguyên tố SEM

Chức năng quét đường và lập bản đồ nguyên tố cho phép người dụng bắt đầu làm việc chỉ bằng một cú nhấp chuột. Chức năng quét đường cho thấy sự phân bố nguyên tố được định lượng trong một biểu đồ đường. Điều này đặc biệt hữu ích để phân tích các cạnh, lớp phủ và mặt cắt ngang của lớp phủ, sơn và các mẫu khác có nhiều lớp.

Máy dò electron thứ cấp

Có thể thêm một máy dò điện tử thứ cấp (SED) tùy chọn vào Phenom ParticleX AM Desktop SEM. SED thu thập các điện tử năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu, khiến nó trở nên lý tưởng để thể hiện thông tin chi tiết về bề mặt mẫu. SED có thể hữu ích cho việc nghiên cứu các cấu trúc vi mô, sợi và hạt hoặc các ứng dụng khác mà địa hình và hình thái quan trọng.

Thông số kĩ thuật

Quang điện tử
  • Nguồn nhiệt điện tử tuổi thọ dài (CeB6)
  • Dòng điện nhiều chùm tia
Phạm vi phóng đại quang điện tử
  • 160 – 200.000 lần
Độ phóng đại quang học
  • 3–16 lần
Độ phân giải
  • <10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 và 7680 x 4800 pixel
Điện áp tăng tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi có thể điều chỉnh giữa chế độ hình ảnh và phân tích 4,8 kV và 20,5 kV
Mức chân không
  • Thấp – trung bình – cao
Máy dò
  • Máy dò phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) (tiêu chuẩn)
  • Máy dò electron thứ cấp (tùy chọn)
Cỡ mẫu
  • Tối đa 100 mm x 100 mm (chân cắm 36 x 12 mm)
  • Tối đa 40 mm (cao)
Thời gian tải mẫu
  • Quang học <5 s
  • Quang điện tử <60 s