Mô tả ngắn

Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific

Hệ thống Thermo Scientific Meridian 4 là sự lựa chọn ưu tiên cho các nhà phát triển thiết bị bán dẫn tiên tiến, điện áp thấp, mật độ cao, yêu cầu hiệu suất và khả năng chẩn đoán nhiều chế độ lỗi khác nhau, bao gồm lỗi tham số và lỗi phát sinh từ sai sót trong quy trình thiết kế.

HỖ TRỢ NHANH

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

Hệ thống Meridian 4 xác định vị trí lỗi điện

Khả năng cải thiện năng suất và độ tin cậy bao gồm phân tích lỗi chi tiết. Việc gỡ lỗi thiết kế các lỗi biên có thể khó khăn hơn do các vấn đề về điện áp hoặc thời gian trong thiết bị. Việc xác định nguyên nhân gốc rễ của lỗi tham số đòi hỏi phải cô lập vị trí của nó ở cả cấp độ mạch và cấp độ thiết bị mà không làm hỏng thiết bị hoặc che khuất các lỗi.

Hệ thống Thermo Scientific Meridian 4 là sự lựa chọn ưu tiên cho các nhà phát triển thiết bị bán dẫn tiên tiến, điện áp thấp, mật độ cao, yêu cầu hiệu suất và khả năng chẩn đoán nhiều chế độ lỗi khác nhau, bao gồm lỗi tham số và lỗi phát sinh từ sai sót trong quy trình thiết kế.

Phần mềm phân tích và môi trường người dùng Advanced Thermo Scientific Sierra bao gồm khả năng tạo ảnh ghép chất lượng cao, độ phóng đại cao. Các ảnh phóng đại cao riêng lẻ được thu thập và sau đó được tích hợp liền mạch để tạo thành ảnh có độ phân giải cao của thiết bị trên trường nhìn rộng.

Hệ thống Meridian 4 xác định lỗi điện
Hệ thống Meridian 4 xác định lỗi điện

Hãy liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về sản phẩm!

Kính hiển vi phát xạ photon để phân lập các vấn đề FEOL

  • Tùy chọn phát hiện phát xạ photon DBX bước sóng mở rộng hoặc InGaAs tiêu chuẩn cho các thiết bị điện áp thấp và các dấu hiệu phát xạ yếu yêu cầu độ nhạy cao
  • Độ ồn thấp với tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu không gì sánh bằng để phát hiện lỗi nhanh chóng ở cấp độ bóng bán dẫn
  • Kết quả dẫn đầu ngành trên các thiết bị dưới 0,5 Vdd với cấu hình DBX

Kính hiển vi quét laser để phân tích lỗi tĩnh và động

  • Hệ thống quét laser cộng hưởng có độ phân giải và độ tương phản cao
  • Các ứng dụng Kích thích bằng tia laser tĩnh (SLS) bao gồm OBIRCH, OBIC và Seebeck Effect Imaging (SEI)
  • Phân lập và mô tả khuyết tật trong điều kiện thử nghiệm động cho các thiết bị tiên tiến
  • Các kỹ thuật động định vị lỗi mềm (SDL), hình ảnh điện áp laser (LVI) và thăm dò điện áp laser (LVP) cho phép định vị lỗi tham số, gỡ lỗi thiết kế và các vấn đề về thời gian, và lập bản đồ tần số bóng bán dẫn
  • Tùy chọn LADA giải quyết theo thời gian để phân tích thời gian quan trọng