Hệ thống X-ray CT cao cấp Phoenix Microme|x Neo & Nanome|x Neo
Mô tả ngắn
Hãng sản xuất:
Phoenix Microme|x Neo & Nanome|x Neo là giải pháp kiểm tra x-ray vi điểm (AXI & CT) tiên tiến, lý tưởng cho ứng dụng từ R&D, sản xuất đến kiểm soát chất lượng cao cấp.
HỖ TRỢ NHANH
THÔNG TIN SẢN PHẨM
- Mô tả
Mô tả
Tổng quan về Phoenix Microme|x Neo & Nanome|x Neo
Các hệ thống Phoenix Microme|x Neo (microfocus) và Nanome|x Neo (nanofocus) kết hợp công nghệ hình ảnh 2D X-ray độ phân giải cao với khả năng chụp CT 3D trong cùng một nền tảng. Máy được thiết kế đặc biệt cho kiểm tra không phá hủy (NDT) các linh kiện điện tử như bán dẫn, bo mạch PCB, pin lithium-ion, đáp ứng yêu cầu sản xuất công nghiệp, phân tích lỗi và R&D. Chúng nổi bật với độ chính xác định vị cực cao, phù hợp cho các tác vụ kiểm tra offline từ R&D đến kiểm soát chất lượng sản phẩm.
Tính năng vượt trội
Hệ thống hình ảnh và quét đa năng 2D & 3D CT:
- Giao diện PlanarCT và chụp CT 3D lựa chọn, cung cấp khả năng phân tích mặt cắt hoặc toàn diện mẫu vật.
Nguồn X-ray cao cấp & độ phóng đại mạnh mẽ:
-
180 kV / 20 W micro- hoặc nanofocus tube cho phép xuyên qua các linh kiện khó, chi tiết rõ nét.
-
Hỗ trợ độ phóng đại hình học cực cao (≥ 1.970× geometric zoom, khả năng phát hiện đến 0.2–0.5 µm)
Detector DXR-HD động & tối ưu hình ảnh FLASH!™:
-
Có các tùy chọn detector như DXR250RT (200 µm, làm mát, 30 fps) và S100 Pro (100 µm), cho chất lượng hình ảnh sống động, rõ ràng.
-
FLASH!™ giúp tối ưu hóa hình ảnh, dễ dàng phát hiện khuyết tật.
X|act – Tự động kiểm tra theo CAD (µAXI):
-
Cho phép lập trình kiểm tra tự động dựa trên thiết kế CAD – nhanh chóng, chính xác, với định vị mẫu cao ngay cả ở góc nghiêng và xoay 360°.
Định vị mẫu & thao tác nhanh:
-
Giao diện trực quan, bản đồ mẫu (navigation map) hỗ trợ định vị mẫu trực tiếp từ ảnh overview, thao tác đơn giản bằng click.
Quét CT nhanh & bảo vệ mẫu nhạy cảm:
-
Chế độ CT cao cấp cho phép chụp lên đến 10 giây, sử dụng Diamond|window tăng tốc quét, giữ chất lượng cao.
-
Tích hợp Dose|manager + Shadow|target để giảm liều tia và bảo vệ mẫu nhạy cảm.
Tích hợp sản xuất & tự động hóa:
-
Hỗ trợ giao thức OPC UA, tích hợp dễ dàng vào quy trình Industry 4.0, xuất dữ liệu kiểm tra & máy học.
Để tìm hiểu rõ hơn về sản phẩm, hãy liên hệ với chúng tôi để được hỗ trợ tư vấn trực tiếp.

























