Máy phân tích kích thước hạt độ phân giải cao LS 13 320 XR
Mô tả ngắn
Hãng sản xuất: Beckman Coulter
Máy phân tích kích thước hạt độ phân giải cao LS 13 320 XR cung cấp dữ liệu phân bố kích thước hạt hàng đầu trong ngành với công nghệ PIDS nâng cao, cho phép đo lường độ phân giải cao và phạm vi đo mở rộng. Máy phân tích kích thước hạt LS 13 320 XR cung cấp kết quả nhanh chóng, chính xác và giúp bạn tối ưu hóa hiệu quả bằng cách đơn giản hóa quy trình làm việc. Một số cải tiến lớn giúp bạn phát hiện ra những khác biệt nhỏ một cách đáng tin cậy có thể có tác động lớn đến dữ liệu phân tích hạt của bạn.
- Phạm vi đo lường trực tiếp từ 10 nm – 3.500 µm
- Tự động làm nổi bật kết quả đạt/không đạt để kiểm soát chất lượng nhanh hơn
- Phần mềm nâng cao giúp đơn giản hóa việc tạo phương pháp cho các phép đo
- Tiêu chuẩn kiểm soát mới để xác minh hiệu quả hoạt động của thiết bị/mô-đun
HỖ TRỢ NHANH
THÔNG TIN SẢN PHẨM
- Mô tả
- Các tính năng
- Các tùy chọn cấu hình
Mô tả
Máy phân tích kích thước hạt LS 13 320 XR Laser Diffraction với công nghệ PIDS Mở rộng phạm vi đo lường cho một loạt các phân tích hạt. Phạm vi đo lường động mở rộng cung cấp dữ liệu phân tích thực (không ngoại suy) xuống tới 10 nm và đo lường độ phân giải cao lên tới 3.500 μm.
Công nghệ PIDS
Công nghệ Tán xạ Cường độ Phân cực Nâng cao (PIDS) cho phép phát hiện dữ liệu thô chính xác hơn và tăng độ nhạy của bộ phát hiện ánh sáng tán xạ có cực tính dọc và ngang cho phân tích kích thước hạt sub-μm – một chất lượng đo lường trước đây không có sẵn. Thông tin cường độ so với góc tán xạ từ tín hiệu PIDS được kết hợp vào thuật toán tiêu chuẩn từ dữ liệu cường độ so với góc tán xạ từ tán xạ ánh sáng laser để cung cấp một phân bố kích thước liên tục. Lợi ích lớn khác của việc thu thập dữ liệu PIDS là việc giải thích dữ liệu thô đơn giản có thể nhanh chóng xác nhận liệu các hạt nhỏ có thực sự có mặt hay không, vì các hạt lớn không xuất hiện tín hiệu khác biệt được hiển thị bởi các hạt nhỏ.
Phần mềm phân tích
Phần mềm dễ sử dụng giúp nén quy trình làm việc, đẩy nhanh việc tạo phương pháp và đơn giản hóa hoạt động hàng ngày bởi người dùng có kinh nghiệm hoặc không có kinh nghiệm. Để tiết kiệm thời gian trong giờ hoạt động trong các phòng thí nghiệm QC hoặc R&D, phần mềm phân tích kích thước hạt LS 13 320 XR cho phép tạo SOM tùy chỉnh. Bạn chỉ cần xác định cài đặt mô-đun, thuộc tính mẫu (bao gồm cả định nghĩa vật liệu được lấy mẫu) và chất mang. Sau khi một phương pháp được lưu, nó có thể được sử dụng 24/7 cho tất cả các phép đo mà không cần tạo ra một phương pháp mới. Và ngay khi một phương pháp được lập trình vào phần mềm LS 13 320 XR, thiết bị phân tích kích thước cho một phép đo có thể được bắt đầu với 3 cú nhấp chuột và kết quả hiển thị sau <60s.
Ứng dụng thiết bị phân tích hạt
Máy phân tích kích thước hạt LS 13 320 XR Laser Diffraction với công nghệ PIDS được thiết kế để phân tích QC/QA dễ dàng, nhanh chóng và chính xác của các chất lơ lửng, nhũ tương và bột khô được sử dụng hoặc sản xuất bởi nhiều ngành công nghiệp khác nhau như Dược phẩm, Biopharma, Thực phẩm, Khoáng sản, Hóa chất, Nghiên cứu vật liệu,…
Ngoài ra để phân tích để phân tích kích thước và hình dạng hạt với kích thước trên 20μm, Công ty TNHH Quốc Tế PTC Việt Nam cung cấp thiết bị phân tích kích thước và hình dạng hạt của hãng Nexopart (Tiền thân là Haver Boecker) Model: HAVER CPA 2-1
Điểm khác biệt nhỏ Phân bố kích thước hạt
- Phạm vi đo mở rộng: 10 nm – 3.500 µm
- Nhiễu xạ laser cộng với tán xạ vi phân cường độ phân cực tiên tiến (Công nghệ PIDS ) cho phép đo lường và báo cáo dữ liệu thực có độ phân giải cao xuống tới 10 nm
- Cung cấp khả năng phát hiện chính xác, đáng tin cậy của nhiều kích thước hạt trong một mẫu duy nhất
Phần mềm dễ sử dụng
- Phần mềm ADAPT có tính năng tự động kiểm tra đạt/không đạt
- Các phương pháp được định cấu hình trước mang lại kết quả với 3 lần nhấp chuột trở xuống
- Đơn giản hóa hoạt động của máy phân tích bởi các chuyên gia cũng như người dùng mới làm quen
- Lớp phủ 1 lần nhấp với lịch sử dữ liệu
- Chẩn đoán người dùng trực quan giúp bạn được thông báo trong quá trình lấy mẫu
- Tạo phương pháp đơn giản hóa cho các phép đo tiêu chuẩn hóa
Công nghệ PIDS để phát hiện trực tiếp các hạt 10 nm
- 3 bước sóng ánh sáng (450, 600 & 900 nm) chiếu xạ mẫu bằng ánh sáng phân cực dọc và ngang
- Máy phân tích đo ánh sáng tán xạ từ các mẫu qua nhiều góc độ
- Sự khác biệt giữa ánh sáng bức xạ theo chiều ngang và chiều dọc cho mỗi bước sóng mang lại dữ liệu phân bố kích thước hạt có độ phân giải cao
- Mô đun bộ đo khô
- Mô đun bộ đo ướt
- Bộ đánh siêu âm
- Bộ hút bụi tự động