Thiết bị đo biên dạng bề mặt 3D ContourX-500


Mô tả ngắn

Hãng sản xuất: Bruker

ContourX-500 là hệ thống đo bề mặt 3D không tiếp xúc để bàn tự động toàn diện nhất thế giới, cho phép đo nhanh chóng và chính xác.

Thiết bị đo biên dạng bề mặt 3D ContourX-500 đạt cấp độ đo gage, nổi bật với độ phân giải và độ chính xác trục Z vượt trội, đồng thời tích hợp đầy đủ những ưu điểm được công nhận của công nghệ giao thoa ánh sáng trắng (White Light Interferometry – WLI) từ các dòng máy dạng đứng của Bruker, trong một thiết kế nhỏ gọn hơn rất nhiều.

Hệ thống này có thể tùy chỉnh linh hoạt để phù hợp với hàng loạt ứng dụng phức tạp, từ đo kiểm QA/QC các bề mặt gia công chính xác và quy trình bán dẫn, cho đến nghiên cứu và phát triển (R&D) trong lĩnh vực nhãn khoa và vi hệ thống cơ điện tử (MEMS).

HỖ TRỢ NHANH

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

ContourX-500 – Hệ thống đo biên dạng bề mặt tiên tiến

ContourX-500 Optical Profilometer là hệ thống đo biên dạng bề mặt 3D không tiếp xúc tự động toàn diện nhất thế giới trong phân khúc máy để bàn, mang đến khả năng đo nhanh chóng và chính xác.

Hệ thống tích hợp đầu quang học có khả năng nghiêng tip/tilt độc quyền của Bruker, cho phép lập trình hoàn toàn tự động để đo các đặc điểm bề mặt dưới nhiều góc nghiêng khác nhau, đồng thời giảm thiểu sai lệch khi theo dõi (tracking errors).

Máy đo biên dạng bề mặt 3D ContourX-500 có độ phân giải trục Z và độ chính xác vượt trội, đạt chuẩn gage-capable, đồng thời cung cấp toàn bộ lợi thế của các model WLI cỡ lớn dạng đứng của Bruker — nhưng trong một thiết kế gọn gàng hơn rất nhiều.

Sử dụng giao diện người dùng tiên tiến nhất ngành, ContourX-500 cho phép truy cập trực quan đến thư viện bộ lọc và phép phân tích được lập trình sẵn cực kỳ phong phú.

Bên cạnh đó, chế độ quét mới USI (Universal Scanning Interferometry) giúp máy dễ dàng tùy biến cho nhiều ứng dụng phức tạp, từ đo lường QA/QC cho các bề mặt gia công chính xác và quy trình bán dẫn, đến nghiên cứu và phát triển (R&D) trong các lĩnh vực như nhãn khoa (ophthalmic)thiết bị vi cơ điện tử (MEMS).

Thiết kế để bàn tiên tiến nhất cho khả năng đo bề mặt 3D vượt trội

Độ phân giải trục Z tốt nhất ngành, không phụ thuộc vào độ phóng đại, cho phép đo các chi tiết vi mô với độ chính xác cực cao.
Tự động hóa nâng cao với:

  • Bàn dịch chuyển XY có mã hóa (encoded XY stage)

  • Đầu đo có chức năng tự động nghiêng tip/tilt

  • Tự động điều chỉnh cường độ ánh sáng (auto intensity)

 Hệ thống cách ly rung tích hợp, thiết kế nhỏ gọn, tiết kiệm không gian.

Khả năng đo lường và phân tích vượt trội

🔸 Giao diện dễ sử dụng, cho kết quả nhanh và chính xác.
🔸 Hỗ trợ tùy chỉnh quy trình đo và phân tích với nhiều tính năng tự động hóa linh hoạt.
🔸 Thư viện bộ lọc và phép phân tích phong phú nhất trong ngành.
🔸 Hỗ trợ xuất báo cáo phân tích tùy chỉnh theo các tiêu chuẩn quốc tế như:

  • ISO 25178 (kết cấu bề mặt 3D)

  • ASME B46.1 (độ nhám bề mặt)

  • ISO 4287 (thông số biên dạng bề mặt 2D)

Tự động hóa tiên tiến

Công nghệ đầu nghiêng (tip/tilt) độc quyền của Bruker được tích hợp ngay trong đầu đo mang lại sự linh hoạt vượt trội cho người dùng trong quá trình thiết lập và kiểm tra sản phẩm.

Bằng cách kết hợp chức năng nghiêng tự động với đường quang học tích hợp trong đầu kính, Bruker đảm bảo rằng điểm kiểm tra luôn nằm trên đường nhìn, bất kể góc nghiêng. Điều này giúp giảm thiểu sự can thiệp của người vận hành và mang lại độ lặp lại tối đa trong phép đo.

Khi kết hợp với bàn dịch chuyển và hệ thống ống kính tự động hóa, ContourX-500 trở thành một giải pháp lý tưởng cho các yêu cầu đo lường linh hoạt trong công nghiệp (“đo khi cần”), tất cả được tích hợp trong một hệ thống nhỏ gọn, tiết kiệm không gian.

Giá trị và khả năng phân tích vượt trội

Với hàng ngàn tùy chọn phân tích được tùy biến sẵn, cùng hai giao diện phần mềm mạnh mẽ và dễ sử dụng là VisionXpress™Vision64® của Bruker, ContourX-500 được tối ưu hóa để nâng cao năng suất đo biên dạng bề mặt 3D cả trong phòng thí nghiệm lẫn môi trường sản xuất công nghiệp.

Sự kết hợp độc đáo giữa phần cứng hiệu năng caophần mềm phân tích chuyên sâu này mang lại truy cập nhanh chóng và thuận tiện đến các phép đo metrology có độ lặp lại cao và thông lượng lớn, vượt trội hoàn toàn so với các công nghệ đo lường tương đương khác.

Để tìm hiểu thêm về tính năng của ContourX-500 vui lòng liên hệ chúng tôi để được tư vấn trực tiếp.