Máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N

Mô tả

Nếu doanh nghiệp đang tìm một máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N cho công đoạn soi lỗi ẩn bên trong camera module, linh kiện điện tử hay pin di động, dòng X-eye Compact 5000N/5000NSL của hãng SEC (Hàn Quốc) là lựa chọn đáng cân nhắc nhờ ống phát tia X micro-focus tự phát triển và bàn thao tác cỡ lớn. Thông tin kỹ thuật chi tiết của model có thể tham khảo tại trang sản phẩm chính hãng SEC.

Thông số kỹ thuật máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N

Máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N dùng ống phát tia X micro-focus closed tube. Điểm hội tụ tối thiểu chỉ 5µm. Điện áp tối đa 100kV, có tùy chọn nâng lên 130kV. Dòng phát tối đa 200µA. Đầu dò FPD cho độ phân giải 1,3 triệu điểm ảnh, tùy chọn nâng lên 2,3 triệu điểm ảnh. Tốc độ khung hình đạt 30FPS, giúp hình ảnh mượt khi quét mẫu.

Bàn thao tác di chuyển theo các trục X, Y, Z, T, có tùy chọn thêm trục nghiêng Tilt. Model tiêu chuẩn X-eye 5000N có bàn 450 x 380mm, hành trình 420 x 340 x 200mm. Bản mở rộng X-eye 5000NSL dùng bàn 650 x 380mm. Hành trình đạt 610 x 510 x 200mm, soi được linh kiện lớn hơn. Độ phóng đại hình học đạt x1,5 đến x35 lần. Phóng đại số lên tới x680 lần.

Bản 5000N nặng khoảng 920kg, kích thước 1.610 x 1.345 x 1.410mm. Bản 5000NSL nặng 1.180kg, kích thước 2.010 x 1.670 x 1.410mm. Máy có tùy chọn thêm phần mềm AXI tự động và chức năng nghiêng đầu dò Detector Tilt.

Tính năng nổi bật của dòng X-eye Compact 5000N

Máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N được thiết kế đơn giản, dễ vận hành. Máy vẫn đáp ứng tốt yêu cầu sản xuất số lượng lớn nhờ phần mềm AXI tùy chọn. Một số điểm đáng chú ý:

• Ống phát tia X micro-focus closed tube 100kV/130kV do chính SEC tự phát triển.
• Hệ thống tối ưu cho kiểm tra tự động, có thêm phần mềm và tính năng dạy máy cho người vận hành mới.
• Cơ cấu trục Z hỗ trợ thao tác hai tay, giúp lấy hình ảnh nhanh và rõ nét hơn.
• Diện tích phân tích khuyết tật tối đa lên tới 650 x 550mm.
• Phần mềm phân tích ảnh xuyên thấu của SEC đọc kết quả và phát hiện lỗi nội bộ theo thời gian thực.

Nhờ vậy, máy phù hợp cho nhà máy điện tử muốn kiểm soát chất lượng camera module và cảm biến. Máy cũng phù hợp soi chip đóng gói QFN/QFP, đèn LED và pin di động ngay trên chuyền offline.

Hình 1: Ảnh chụp X-ray CT để kiểm tra các lỗi bên trong của linh kiện điện tử

Kết luận

Tóm lại, máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N mang lại giải pháp soi lỗi nội bộ nhanh, hình ảnh rõ nét và có thể mở rộng lên phiên bản 5000NSL cho bàn kiểm tra khổ lớn hơn. Đây là thiết bị đáng để các xưởng SMT, lắp ráp linh kiện điện tử và pin tham khảo khi nâng cấp trạm kiểm tra chất lượng.

Quý khách quan tâm đến máy X-ray kiểm tra khuyết tật SEC X-eye 5000N có thể liên hệ để được tư vấn cấu hình và báo giá phù hợp.