Mô tả ngắn

Hãng sản xuất: Bruker

HỖ TRỢ NHANH

THÔNG TIN SẢN PHẨM

Mô tả

Bruker NPFLEX‑1000 – Hệ thống đo biên dạng bề mặt 3D không tiếp xúc cấu trúc mở, tối ưu cho mẫu lớn và kiểm tra chính xác

Bruker NPFLEX‑1000 là hệ thống đo biên dạng 3D bằng giao thoa ánh sáng trắng (WLI – White Light Interferometry) đứng sàn (floor‑standing) cao cấp, thuộc dòng NPFLEX của Bruker, mang lại sự linh hoạt vượt trội trong đo các mẫu kích thước lớn hoặc hình dạng phức tạp. Với cấu trúc dạng cầu mở độc đáo, NPFLEX‑1000 cho phép tiếp cận mẫu từ nhiều góc độ, tích hợp các phụ kiện chuyên dụng, và được thiết kế đặc biệt để đảm bảo độ chính xác cao, độ lặp lại tuyệt vời cùng tốc độ đo nhanh – phù hợp tối ưu cho hoạt động đo lường và kiểm tra chuyên nghiệp

Đo biên dạng NPFLEX Thiết kế và cấu trúc

NPFLEX‑1000 sở hữu thiết kế open‑gantry bridge (cầu mở lớn), với khoảng hở đến 300 mm giữa bàn mẫu và đầu quang học, và phần swivel head (đầu quay) linh động giúp tiếp cận các mặt nghiêng hoặc vị trí khó tiếp cận trên mẫu một cách dễ dàng. Kiến trúc này hỗ trợ thao tác với các mẫu kích thước lớn, hình học phức tạp, hoặc cần đo ở nhiều vị trí khác nhau mà không cần tháo lắp quá trình đặt mẫu.

Khung thân máy bằng vật liệu đúc nguyên khối hoặc gia công CNC, đảm bảo độ cứng cơ học cao và khả năng giảm rung tuyệt vời. Điều này mang lại độ chính xác ổn định và lặp lại cao kể cả trong môi trường sản xuất khắt khe.

Bàn XY có thể lựa chọn phiên bản manual hoặc motorized, cho phép di chuyển mẫu chính xác cao và dễ dàng nâng cấp theo nhu cầu. Trục Z điều khiển bằng motor chính xác, hành trình lớn và tự động lấy nét, giúp hệ thống đo các bề mặt có thay đổi độ cao hoặc độ dốc mà không cần hiệu chỉnh thủ công.

Thiết kế mở dễ dàng thao tác lấy và đổi mẫu mà không cần dùng công cụ thêm; đồng thời hệ thống hỗ trợ gá kẹp tùy biến như mâm hút chân không hoặc fixture chuyên dụng tùy theo nhu cầu đo mẫu riêng biệt.

       Đo biên dạng NPFLEX-1000              

Quang học và hiệu suất

NPFLEX‑1000 sử dụng công nghệ White Light Interferometry thế hệ mới, kết hợp với khả năng đo PSI (Phase Shifting Interferometry), VSI (Vertical Scanning Interferometry) và đo bước nhảy bề mặt (Step Height) – cung cấp độ phân giải dọc lên đến dưới 0,1 nanomet RMS, đảm bảo độ tin tưởng cao trong mọi phép đo bề mặt vi mô đến macro .

Thiết bị trang bị các ống kính tiêu cự dài (long working-distance objectives) giúp mở rộng phạm vi tiếp cận mẫu cao, đo được các hướng nghiêng hoặc sâu. Ngoài ra, có tùy chọn Bore‑Scope Objective để đo sâu vào lòng trụ ~150 mm hoặc Fold‑Mirror giúp đo cạnh bên trong hoặc mặt nghiêng đến 70° mà không gây phá hủy mẫu .

Camera tích hợp độ phân giải cao thu nhận dữ liệu 3D chi tiết, kết hợp với phần mềm Vision64 – nền tảng điều khiển và phân tích hình ảnh chuyên nghiệp: cho phép tự động lấy nét, tự chọn chế độ đo, điều chỉnh ánh sáng LED và xử lý dữ liệu nhanh chóng với giao diện trực quan, người dùng không cần chuyên môn vẫn có thể vận hành hiệu quả .

Vision64 tích hợp chế độ Advanced Find SurfaceVisionXpress hỗ trợ các routine đo tự động, thư viện mẫu kiểm tra tiêu chuẩn, và tính năng scan tự thích nghi (Universal Scanning Interferometry – USI mode) để xử lý chính xác các bề mặt có độ tương phản, độ cao và mật độ khác nhau cùng lúc – cho phép kết quả đo ổn định và số liệu chuẩn xác cao .

Điểm nổi bật

  • Thiết kế open‑gantry bridge với khoảng hở 300 mm và đầu quay linh hoạt – thao tác dễ dàng mẫu lớn hoặc góc nghiêng khó .

  • Thân máy cứng chắc, giảm rung, độ ổn định cao – đảm bảo độ chính xác lâu dài trong môi trường sản xuất.

  • Bàn XY manual hoặc motorized, dễ nâng cấp quy trình đo bán tự động hoặc toàn tự động.

  • Trục Z motorized hành trình lớn và tự động lấy nét, hỗ trợ đo trên bề mặt có độ cao/phức tạp.

  • Công nghệ WLI hiện đại, hỗ trợ PSI/VSI/Step-Height, độ phân giải dọc dưới 0,1 nm RMS.

  • Ống kính tiêu cự dài, Bore‑Scope, Fold‑Mirror tùy chọn – tăng khả năng tiếp cận các vùng khó: lòng trụ hoặc mặt bên nghiêng đến 70°.

  • Camera độ phân giải cao thu nhận hình ảnh 3D rõ nét, dữ liệu đầy đủ chi tiết.

  • Phần mềm Vision64 (VisionXpress & USI mode) mạnh mẽ, giao diện dễ dùng, tự động đo và phân tích nhanh.

  • Hiệu suất đo nhanh – kết quả trong ~10 giây với quy trình đo và phân tích tự động, tối ưu throughput .

Bruker NPFLEX‑1000 là thiết bị lý tưởng cho các đơn vị cần đo biên dạng bề mặt 3D trên mẫu lớn, nhiều góc độ và yêu cầu độ chính xác nanomet. Sự kết hợp giữa thiết kế công nghiệp tối ưu, khả năng đo không giới hạn và phần mềm điều khiển hiện đại khẳng định vị thế cao cấp của Bruker trong lĩnh vực đo lường quang học không tiếp xúc.

Liên hệ với chúng tôi ngay hôm nay để được tư vấn trực tiếp và trải nghiệm khả năng đo lường vượt trội của NPFLEX‑1000.